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半导体热电特性综合实验仪

简要描述:

FMD3039型半导体热电特性综合实验仪加热范围:室温~120℃;
致冷范围:-10℃~15℃;控温精度:0.1℃;恒温稳定度:±0.1℃;
温度测量范围:-50~125℃;精度±0.1℃;三位半数显;
恒流源:0~1000uA;
电压测量范围:0~15V;测量精度:1mV;
电流测量范围:0~2A;测量精度:1mA;

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FMD3039型半导体热电特性综合实验仪实验项目:

1.热电制冷器工作特性研究;

2.半导体热电材料的珀尔帖效应进行制冷或制热特性;

3.塞贝克效应;

4.半导体热敏电阻特性的研究;

5.金属电阻温度系数的测定;

6.PN结正向压降与温度关系的研究和应用;

7.电阻温度计与非平衡直流电桥.

FMD3039型半导体热电特性综合实验仪指标:

富盟德FMD3039主要由控温仪、半导体致冷堆组件组成;

加热范围:室温~120℃;

致冷范围:-10℃~15℃;控温精度:0.1℃;恒温稳定度:±0.1℃;

温度测量范围:-50~125℃;精度±0.1℃;三位半数显;

恒流源:0~1000uA;

电压测量范围:0~15V;测量精度:1mV;

电流测量范围:0~2A;测量精度:1mA;

配PN结;

配半导体热敏电阻;


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