椭圆偏振测厚仪

椭圆偏振测厚仪产品介绍：

FMD6133手动椭圆偏振测厚仪使用消光法测量薄膜厚度和折射率；手动调节测试过程中的起偏和检偏角度。椭圆偏振法地应用于固体基片上介质薄膜的测量。在己有测定薄膜厚度的方法中，它是能测量到zui薄和精度zui高的一类。

实验项目：

1.了解并熟悉仪器的工作原理和性能

2.掌握如何利用设备测试样品的方法

指标：

偏振器方位角读数范围：0°-180°

测量范围：1nm-300nm

测量值：≤1nm

入射角：30°-90°；误差：≤0.1°

度盘刻度：每格2度

游标格值：0.05°

光学中心高度：152mm

工作台直径：Φ70mm

外形尺寸：730mm*230mm*290mm

产品重量：20kg；

产品介绍：

FMD6133手动使用消光法测量薄膜厚度和折射率；手动调节测试过程中的起偏和检偏角度。椭圆偏振法地应用于固体基片上介质薄膜的测量。在己有测定薄膜厚度的方法中，它是能测量到zui薄和精度zui高的一类。

实验项目：

1.了解并熟悉仪器的工作原理和性能

2.掌握如何利用设备测试样品的方法

指标：

偏振器方位角读数范围：0°-180°

测量范围：1nm-300nm

测量值：≤1nm

入射角：30°-90°；误差：≤0.1°

度盘刻度：每格2度

游标格值：0.05°

光学中心高度：152mm

工作台直径：Φ70mm

外形尺寸：730mm*230mm*290mm

产品重量：20kg；