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用导电微晶法电阻微晶结构测量道题的静电场
  • 发布日期:2026-09-03      浏览次数:120
    • 导电微晶法静电场描绘仪是由导电微晶、双层固定支架、同步探针等组成;支架采用双层结构,上层放记录纸,下层放导电微晶。电极已制作在导电微晶上,并将电极引线接出到外接线柱上,电极间制作有导电率,小于电极且向均匀的导电介质。接通直流电源可以进行实验。在导电微晶和记录纸上方有一探针,通过金属探针臂把两探针固定在同一手柄座上,两探终保持在同一铅垂线上。移动手柄座时,两探针的运动轨迹是一样的。由导电微晶上方的探针找到待测点后,按下记录纸上方的探针,在记录纸上留下对应的标记,移动同步探针在导电微晶上找出若干电位相同的点,由此可描绘出等位线。
      实验目的:
      模拟法测绘静电场;
      采用导电微晶法,电阻微晶结构;
      双层结构,约200mm*90mm
      描绘平台:约200mm*200mm*4mm,电极可更换;
      激光描点,激光电源,功率2mw,波长625nm
      弹性探头,接触电阻小,接触稳;
      电极数量:2个;同轴电缆、平行板电容(还可选配3个:点与平板、平行导线、聚焦)
      电阻微晶:约125mm*125mm*0.2mm均匀、耐磨;
      电极规格:约200mm*150mm*3mm(不容易破损,减少玻璃易破的确点)
      电压输出:DC 0-12V数显,连续可调;
      精度范围:0.01V,短路保护功能;
      配电阻微晶导电微晶电极板:同轴电缆、平行板电容,电极板可更换。


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