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​测量金属的线胀系数的方法之——光干涉法
  • 发布日期:2025-09-18      浏览次数:112
    • 本实验是采用光的干涉法测量金属的线胀系数。
      实验项目:
      1.利用光的干涉测定线胀系数;
      2.迈克尔逊干涉仪的调整与使用。
      规格参数:
      双导轨、双动镜、平台式
      半导体激光器:波长625nm
      温控范围:50-120℃,选择
      恒温稳定度:±0.1℃
      测温范围:-50-125℃,精度±0.1℃本实验是采用光的干涉法测量金属的线胀系数。
      实验项目:
      1.利用光的干涉测定线胀系数;
      2.迈克尔逊干涉仪的调整与使用。
      规格参数:
      双导轨、双动镜、平台式
      半导体激光器:波长625nm
      温控范围:50-120℃,选择
      恒温稳定度:±0.1℃
      测温范围:-50-125℃,精度±0.1℃

      干涉法线胀系数测定仪

      干涉法线胀系数实验仪可完成利用光的干涉测定线胀系数;迈克尔逊干涉仪的调整与使用实验;该实验装置采用双导轨、双动镜、平台式,是采用光的干涉法测量金属的线胀系数;温控范围为50-120℃,选择。

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