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研究硅光电池伏安特性、硅光电池短路电流与开路电压、相对强度的关系
  • 发布日期:2025-09-10      浏览次数:99
      • 电压测量范围:0-1.999V, 0-19.99V, 三位半数显
      • 电流测量范围:0-1.999mA, 0-19.99A, 三位半数显
      • 光强测量范围:0-1900LUX
      • 负载电阻:0-9999Ω
      • 实验项目:
        1.了解硅光电池的基本结构及基本原理;
        2.研究硅光电池伏安特性、硅光电池短路电流与开路电压、相对强度的关系。
        规格参数:
        硅光电池.
        半导体光源,暗箱
        电压测量范围:0-1.999V, 0-19.99V, 三位半数显
        电流测量范围:0-1.999mA, 0-19.99A, 三位半数显
        光强测量范围:0-1900LUX
        负载电阻:0-9999Ω
      • 硅光电池基本特性实验仪

      反射镜
      镜面直径>Φ25mm,
      镜面反射率>90%
      动镜移动距离:100mm
      动镜读数系统
      动镜范围:100mm,
      分度值:0.0001mm
      粗    读:0.01mm,
      细    读:0.001mm

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