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用导电微晶法测绘静电场的实验方法
  • 发布日期:2025-08-29      浏览次数:137
    • 导电微晶法静电场描绘仪是由导电微晶、单层固定支架、导电微晶电极等组成;电极已制作在导电微晶上,并将电极引线接出到外接线柱上,电极间制作有导电率,小于电极且向均匀的导电介质。接通直流电源可以进行实验,位置可直读。
      实验目的:
      1.模拟法测绘静电场;
      2.采用导电微晶法,电阻微晶结构,位置可直读;
      规格参数:
      单层结构:减小双层结构不同轴带来的误差;
      描绘平台:约200*200*4mm,电极可更换;
      镀金弹性探头,接触电阻小,接触稳;
      电极数量;2个,同轴电缆、长平行导线(可选配3个:点与平板、平行板、聚焦);
      电阻微晶:约125*125*0.2mm均匀、耐磨;
      电极规格:约200*150*3mm(不容易破损,减少玻璃易破的确点);
      电压输出:DC 0-12V数显,连续可调;
      精度范围:0.01V,短路保护功能;
      直流电压测量:0-19.99V;
      电压测量精度:0.01V;
      等势线位置横坐标与纵坐标数字显示;精度:0.01mm;
      配电阻微晶镀金电极板:同轴电缆、长平行导线,电极板可更换。

      模拟静电场描绘仪(导电微晶法位置直读式)

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